Сканирующий электронный микроскоп Zeiss SUPRA 40VP, установленный в МРЦ "Нанотехнологии", является уникальным аналитическим комплексом исследования поверхности благодаря широкому набору дополнительных детекторов и приставок.

Подробнее: Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Supra 40VP

Сканирующий электронный микроскоп Himera EM50Pro (Ciqtek SEM5000Pro) с детектором дифракции обратно-рассеянных электронов Oxford C-Nano+.

Подробнее: Сканирующий электронный микроскоп Himera EM50Pro

Рабочая станция Auriga Laser с пересекающимися ионным и электронным пучками дополнительно укомплектована твердотельным лазером.

Подробнее: Zeiss AURIGA Laser

Система со сфокусированными электронным и ионным зондами QUANTA 200 3D (FIA, Нидерланды), на базе которой смонтирован аналитический комплекс Pegasus 4000 (EDAX, USA).

ВОЗМОЖНОСТИ СИСТЕМЫ QUANTA 3D

Микроскоп Quanta 3D DualBeam® представляет собой комбинацию двух систем:

- растрового электронного микроскопа (РЭМ), дающего изображения разнообразных образцов в цифровой форме с увеличением более 100 000 крат;

- фокусированного ионного пучка (ФИП), способного быстро и прецизионно удалить слой материала образца, обнажить структуры под поверхностным слоем, создать сечение, осадить слой материала и т.п. Кроме того, ионный пучок, также как и электронный, может создать изображение с высоким разрешением.

Подробнее: Система со сфокусированными электронным и ионным зондами QUANTA 200 3D

Настольный сканирующий электронный микроскоп ТМ3000 чрезвычайно прост в управлении и имеет очень компактные размеры, что делает его идеальным для образовательных учреждений. Режим низкого вакуума позволяет исследовать непроводящие образцы без предварительного напыления. Удобный графический пользовательский интерфейс и простота в обслуживании позволяют использовать его в образовательном процессе. Прибор оснащен приставкой энергодисперсионного микроанализа OXFORD, что существенно расширяет круг решаемых задач.